3D量測怎麼選?判斷秘訣解析之「白光干涉」篇
3D量測作為2D檢測資料不夠全面的補充選項,這幾年已蔚為趨勢;因為能夠不破壞待測物,非接觸式3D量測又比接觸式更受歡迎。有些讀者可能聽過、甚至已經使用過非接觸式3D量測的部分技術,比如常見的白光干涉(White Light Interferometry, WLI)、共焦顯微鏡(Confocal Microscopy)、光學相干斷層掃描(Optical Coherence Tomography, OCT)、雷射三角測量(Laser Triangulation)、結構光掃描(Structured Light Scanning)、紅外熱成像(Infrared Thermography)、飛行時間測距(Time of Flight, TOF)等等。在眾多技術中,該如何因應場景和各個技術的優勢,選擇出最適合當下應用的量測法呢?我們將持續探討幾種非接觸式3D常見的技術,讓您能夠掌握判斷的基本原則。
Jul 22nd, 2024