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線掃描相機相較於面掃描相機的一大優勢，就是可以傾斜架設。當想要檢查的瑕疵只有在某一特定角度才能被看見時，能傾斜架設的線掃描相機就很方便；同時在相機傾斜架設時，正光無需使用同軸照明，對光源的壓力也會降低很多。但應該怎麼判斷哪些情況下，能傾斜架設線掃相機？或有哪些相機不適合傾斜架設呢？

說到偏振光的應用，最常見的就是攝影時使用的偏光鏡，常用來消除反光。在工業上則有更多的應用。一般來說，根據要檢測的項目，我們會使用穿透光架構或是反射光架構。穿透光的架構適合用來檢查透明材質類的待測物，例如產品成形殘留的應力，反射光的架構適合用來檢查不透明材質類的待測物，詳細請見本文進一步說明。

以往用線雷射3D Sensor拍攝光亮的金屬表面時（如：電動車電池），會難以取得良好的影像，導致量測遇到挑戰。這主要是由於入射光照射到鏡面目標表面時，所發生的散射效應導致。要解決這個問題，通常我們會使用相機的多重曝光功能，但是整體的曝光時間會被拉長，導致掃描速度被拖慢。這篇文章將介紹另一種方式，且不會增加掃描時間！

不少人對3D技術的印象或許還停留在量測幾何公差，實際上3D技術所應用的範圍遠遠更廣，多層膜量測就是一個很好的例子，3D能較2D更準確地檢測多層膜結構的厚度、平整度等參數，進而確保產品的品質和性能。本文將以折疊手機屏幕、以及電路板塗膠厚度這兩個實際應用案例說明。

檢測樣品表面的些微凹凸瑕疵，是很多客戶的痛。因為每個客戶都說：「那些凹凸瑕疵明明用肉眼都可以很清楚的看見，怎麼放到視覺系統裡拍攝就消失了？」對於拍攝這類的瑕疵，我們會使用一種稱作「2.5D架構」的非對稱打光方式來拍攝。由於這種瑕疵通常都是很些微的凸起或是凹陷，不像一般瑕疵有一個很明確的外型，因此使用同軸、或是相機與鏡頭採對稱角度的架構來拍攝，是無法拍攝出來的。我們必須使用非對稱的方式，並搭配光源光型的修改才能順利拍出。

前幾期的電子報我們和大家介紹了Wise Topo和Wise Scope的原理與差異，本期我們來一起看看有哪些案例已經實際應用這兩個產品吧。在進入應用案例之前，讓我們先簡單回顧一下Wise Topo的關鍵功能：SD Optics公司獨家的MALS(Micro-mirror Array Lens Systems)技術可以讓光學模組的景深擴展20倍以上，因此客戶無須Z軸馬達，就能直接控制MALS進行不同高度的對焦、或是擴展景深。景深擴展的資料，還可以用來得到3D資訊和其profile。

點膠在各產業中，已經成為生產過程中不可或缺的關鍵技術。現在無論是電子製造、汽車工業、醫療器材生產還是其他工業領域等，也都會導入點膠技術，以進一步提升產品的品質和可靠性。除了點膠技術的提升以外，塗膠後的檢測也非常重要。傳統2D AOI只能量測膠的寬度，無法量測膠的高度與面積，且2D針對透明的膠體也難以檢測。相較之下，以3D技術量測會是較精準的作法。

物件量測可分為「尺寸公差」與「幾何公差」，我們把這兩種公差統稱為「輪廓度」。用白話說，尺寸公差指的是加工件絕對的長度、寬度等公差，而幾何公差則代表著工件的形態、形狀、位置關係。幾何尺寸與公差是品質控制重要的一部分，確保輪廓度在允許的範圍內，可以保證產品的一致性和品質，如果零件的輪廓度不正確，就有可能導致組裝過程中的磨損或損壞，導致生產成本的增加。 我們將簡單闡述輪廓度的定義、常見的量測方法及最新趨勢，並與您分享一個輪廓度量測的實際案例。