在穩定PCB信號傳輸的關鍵指標:平面度中,我們介紹了平整度(又稱平面度)對PCB產業的影響,其實平整度在金屬加工產業或是半導體產業也非常看重,例如IC晶片的均熱片等等,若是均熱片不夠平整,會影響到與晶片的接觸面積,進而影響到散熱效果。市面上有許多量測平整度的方式,例如接觸式三次元探針量測儀,但其速度較慢,只能用於抽檢,且有刮傷待測物的風險,因此許多客戶轉而考慮使用非接觸式3D Sensor來量測平整度。
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Teledyne DALSA的Linea ML系列多光譜相機提供光譜獨立的 RGB 和 NIR 輸出,一次掃描就能得到彩色與NIR影像,準確檢測各種材料和產品的表面及表面下的缺陷,進一步處理具挑戰性的檢測應用,例如透過檢測列印在紙張上的反射近紅外線 (NIR) 光的安全油墨,可應用在鈔票和其他高安全性印刷品等檢測應用,而半導體晶圓和印刷電路板 (PCB) 檢查等其他應用中,Linea ML系列相機也可輕鬆發現近紅外光穿透的表面下方的缺陷。
在Navitrol導航軟體助無人堆高機功能再進化!文章中提到,受新冠肺炎影響,企業需要高度彈性搬運機能的AMR(自主移動機器人)來解決產線缺工的問題,但好不容易架設完成AMR系統,缺工問題獲得緩解,接下來的目標就是如何讓產線的運作效率更高。Navitec Systems 的車隊管理軟體Navithor在去年9月迎來了一波大改版,除了優化各項功能外,也減化了許多設定操作,間接提升產線生產效率,以下將介紹一些重大更新,幫助客戶提升生產效率。
在世界初のPixel Shift線掃描TDI相機中,曾經介紹過Teledyne DALSA的「超解析度」功能所帶來的六大好處,包括可以沿用現有16k/5μm相機使用的鏡頭、光源、encoder、機構設計,有較深的景深、同樣FOV條件下景深可達2倍......等好處,具體對實務上有什麼幫助呢?我們以晶圓檢測作為說明案例。
有鑑於高精度、高解析度是2024年AOI趨勢,霖思科技今年重點針對自動對焦光學模組進行更新,讓更多客戶不用煩惱景深太淺、無法獲得高解析度取像的問題,繼推出搭載面陣相機的版本後,敲碗許久搭載暗視野光源的5X版本也正式上市了!
在工業4.0及智慧製造潮流驅動下,愈來愈多製造領域採用AOI搭配AI的整合應用,其中以半導體領域最為積極,工研院產科國際所數據指出,2022年全球AOI檢測系統市場規模預測達10億美元,2020年至2025年間的年複合成長率達17.7%,預估2024年全球智慧製造市場規模上看4,000億美元,年複合成長率達10.1%。
我們在先前文章介紹了WiseTopo與WiseScope所搭載的MALS超高速變焦技術,無需靠移動Z軸影像堆疊,即可得到全景深的影像與3D分析量測功能,本篇文章將從規格深入解釋兩個產品線間功能上的差異,讓大家能針對所需選擇最適合的產品。
高解析度專案的比例在這一兩年中快速增加,光是今年我們拍攝的上百件專案數中,就有四分之一是光學解析度高於1.5μm/pixel的專案,顯見台灣正迎來一波新的產業升級,特別是半導體產業正在加速供應鏈在地化,對整個業界來說是一大挑戰。
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