半導體

積體電路大廠的目檢之痛

返回列表

如何不讓目檢障礙限制產能?

LINX Taiwan曾經協助一家積體電路封裝大廠進行檢測設備升級。這家大廠有多台拍照機,但因晶片缺陷多樣複雜,電路設計不同,難以使用傳統演算法進行辨識,因此仍是以人員根據拍照機的影像進行判斷,才能將結果記錄下來。但人工判斷帶來了以下幾個亟需解決的問題:
人工看圖的疲勞、產能的限制、每個人員的主觀缺陷定義都不同……。若想進一步提升產線效能,需要有一個更有效排除這些因素的方式。 



霖思科技股份有限公司

用AI提前修正製程,避免瑕疵

藉由與生產端溝通、了解生產過程的實際痛點,LINX Taiwan提出的解決方案是,使用外掛AI分析的電腦,從原設備將影像提取出來、進行AI分析後,再回授到原設備,讓人員便於記錄。如此甚至可以將AI的分析結果回授到工廠的製造執行系統(Manufacturing Execution System, MES),讓物料在進入到下一個製造階段前即時的修正可能發生的瑕疵。以這樣的方式,最終成功幫助客戶:

■ 提高工廠的產能
■ 有效減少人力、克服人員疲勞帶來的漏檢、誤殺

...等問題。