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測試AOI時，有時會出現一些惱人的小狀況，以下是一些檢查的方向給大家參考：機構有無晃動？相機或鏡頭有無髒污？相機溫度過高？有好幾個因素發生，不確定該怎麼debug干擾來源？看完這篇就知道囉！

霖思的工程團隊在幫客戶進行技術支援時，常會發現一個很容易被忽略的小細節，那就是光學解析度調整的準確度。當我們和客戶解釋光學解析度調整的準確度的重要性時，不少客戶都會這樣回覆 : 「我們的設備有encoder，所以相機會使用正確的line rate取像，因此問題不是你說的這樣！」但這樣的回答，其實是明顯忽略了光學解析度的影響。

一般我們在選擇相機時，看的不外乎是相機的解析度、幀率、傳輸介面、彩色或黑白、像素大小等等…，許多相機廠商的相機篩選工具也是依據這些參數來設計。但如果今天我們很清楚相機的應用方式，例如是在低光源、或是強光下使用，我們就可以更進一步的察看與相機性能有關的參數來選擇相機。有些讀者可能擔心，不同廠牌的相機也能用嗎？答案是沒問題的！因為不論是哪家廠商生產的所有相機，它們的參數都是遵照EMVA1288的標準規範，以相同的測試條件和方法測試，因此就有了比較的基準。那麼，評估相機常用到的性能參數有哪些呢？

線掃描相機相較於面掃描相機的一大優勢，就是可以傾斜架設。當想要檢查的瑕疵只有在某一特定角度才能被看見時，能傾斜架設的線掃描相機就很方便；同時在相機傾斜架設時，正光無需使用同軸照明，對光源的壓力也會降低很多。但應該怎麼判斷哪些情況下，能傾斜架設線掃相機？或有哪些相機不適合傾斜架設呢？

說到偏振光的應用，最常見的就是攝影時使用的偏光鏡，常用來消除反光。在工業上則有更多的應用。一般來說，根據要檢測的項目，我們會使用穿透光架構或是反射光架構。穿透光的架構適合用來檢查透明材質類的待測物，例如產品成形殘留的應力，反射光的架構適合用來檢查不透明材質類的待測物，詳細請見本文進一步說明。

檢測樣品表面的些微凹凸瑕疵，是很多客戶的痛。因為每個客戶都說：「那些凹凸瑕疵明明用肉眼都可以很清楚的看見，怎麼放到視覺系統裡拍攝就消失了？」對於拍攝這類的瑕疵，我們會使用一種稱作「2.5D架構」的非對稱打光方式來拍攝。由於這種瑕疵通常都是很些微的凸起或是凹陷，不像一般瑕疵有一個很明確的外型，因此使用同軸、或是相機與鏡頭採對稱角度的架構來拍攝，是無法拍攝出來的。我們必須使用非對稱的方式，並搭配光源光型的修改才能順利拍出。

設計光機時一定會遇到的問題就是 : 光源要多長？有的前輩會和你說，你就根據經驗多加XXX長度就好了 ; 有的同事會和你說，啊不就FOV多寬光源就多長就好了嗎？照做之後的結果，機台做好測試才發現影像兩側亮度偏暗…。所以，每當我們建議客戶說光源長度應該是多少時，不少客戶都會訝異，實際需要的光源長度往往比他們想像的還長。到底應該怎麼準確地抓出正確長度呢？

關於解析度，您是否抱有以下疑問：1. 面對不同大小的瑕疵，如何抓出最適合的光學系統解析度？2. 為什麼在高倍率鏡頭下，還是無法獲得清楚的瑕疵影像？ 本文會為您一一解答各種疑問，幫助您獲得更清晰的瑕疵影像