半導體
半導體晶圓、PCB等多層結構的穿透缺陷檢測

Multi Field多光譜透視,拍一次即可透視位於底層的瑕疵
使用具備多光譜技術的相機,如Teledyne DALSA的Linea ML系,能夠提供光譜獨立的 RGB 和 NIR 輸出,一次掃描就能得到彩色與NIR影像,準確檢測各種材料和產品的表面及表面下的缺陷,進一步處理具挑戰性的檢測應用,例如透過檢測列印在紙張上的反射近紅外線 (NIR) 光的安全油墨,可應用在鈔票和其他高安全性印刷品等檢測應用,而半導體晶圓和印刷電路板 (PCB) 檢查等其他應用中,Linea ML系列相機也可輕鬆發現近紅外光穿透的表面下方的缺陷。

以近紅外光拍攝晶圓及電路板位於表面之下的缺陷

