隨著製程的演進，元件的尺寸越做越小，線路也越做越細。因此不論是FPD、PCB還是半導體產業，在尺寸量測或瑕疵檢測上，對於精度的需求也越來越高，常見的三角量測技術的線雷射、結構光等等，因本身技術原理之限制下，Z軸精度難以達到次微米等級（Sub-Micron）。

在此市場趨勢下，LMI Technology推出了彩色線共焦技術的Gocator 5500系列，不僅令Z軸重複精度高達0.05μm，掃描速度最高更可達13.5kHz。


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此外，Gocator 5500系列採用了跟雷射共軛焦相同的原理，在感光元件的前方設置狹縫，阻擋非必要的反射光進入感光元件，因此針對表面複雜或高反射的表面，抗噪能力會遠遠優於線雷射或是結構光等其他形式的3D Sensor。

以下是實際用LMI Gocator 5500系列中的G5512，與他牌線雷射實際拍攝LED Chip上的Wire bonding比較結果（金線粗細約24μm），明顯觀察到LMI Gocator G5512可以清楚拍攝金線的完整形貌，但線雷射因為周圍雜訊的影響，難以判別原本的形貌，由此可見Gocator 5500系列的抗噪能力遠優於線雷射。

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