「打光」是設計AOI光學系統最困難的部分，工程師需要累積許多拍攝經驗，才能精確設計出合適的打光架構，而打光的目的可以歸類為以下幾點：

1. 照亮拍攝物
2. 提供均勻的照明
3. 凸顯瑕疵的特徵
4. 改變拍攝物的顏色（提高對比）

良好的打光除了可以讓相機在最佳的SNR下得到對比鮮明的影像，同時省下光機費用，近幾年光源使用效率的重要性備受重視，設計光機時不再只是一味提高成本購買高燈源亮度，而是盡可能提升鏡頭的收光效率。 

以下是四種線掃描系統常見的基本打光架構：

1. 傾斜架構
優點：沒有分光鏡，因此光源不會因為經過分光鏡而大幅衰減。
缺點：只限四線以內的線掃描相機（不適合TDI相機），若拍攝物是透明或表面有較高結構，傾斜拍攝會出現陰影，影響軟體的檢測。 

2. 同軸打光—玻璃分光鏡
優點：價格最實惠。
缺點：不適用於高解析度系統上，因為玻璃的厚度會產生像散，太薄又容易破裂及彎曲。

3. 同軸打光：薄膜分光鏡
優點：適用於高解析度系統，薄膜分光鏡是厚度約2μm的硝化纖維膜，黏在鋁框上，且不會引入像散。
缺點：維護困難，薄膜表面若是沾到灰塵無法清除，環境濕度變化太大也會讓薄膜失去張力產生皺摺，因此建議在無塵室環境使用。

4. 同軸打光：菱鏡
優點：四種方案中效果最好，成像不會引入像散、菱鏡也很堅固，鏡頭本身自帶的分光鏡皆使用分光菱鏡。
缺點：價格相對昂貴。

以上是否有您之前使用過的打光架構呢？如果您不確定手邊的應用該用哪種打光方式最好、或者正在設計光機架構，歡迎隨時預約免費諮詢，讓我們專業的光學團隊為您進一步評估。

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