怎麼檢測反光曲面上的多種不同瑕疵？

將光源打上曲面上時，通常有幾個位子的反光會特別強，甚至導致過曝。在AOI系統上，若是瑕疵剛好出現在反光強的地方，那麼演算法就會有漏檢或誤判的可能。比如上圖的滑鼠上有兩種類型的瑕疵，紅圈的是凹痕跟刮傷，藍圈的是奇異筆的髒污，共三處，我們希望能夠一次把所有的瑕疵檢測出來。用2D拍攝會因為反光干擾而拍不出瑕疵，但用3D檢測拍攝，再搭配3D軟體工具即可簡單克服反光的挑戰。

3D拍攝解決反光問題

用3D Sensor拍攝，就能解決反光問題，清楚拍到凹痕跟刮傷（上圖紅圈處）。

還有一個挑戰，就是拍到凹痕後如何檢出凹痕？一般軟體工程師直覺會想用Blob來找出這些瑕疵，但這些凹痕與刮痕在曲面上，高低位置都不同，導致無法找到合適的高度閥值。

內建軟體工具拉平平面後，找出瑕疵

碰到曲面檢測的情況，使用曲濾補償功能就可解決，比如LMI 3D Sensor的內建軟體GoPxL中就有這個好用的工具。我們可以用Surface curvature correction拉平曲面，並且過程中不會影響原有的瑕疵。最後，再用Blob工具找出三處凹痕與刮傷。

值得一提的是，GoPxL內建工具除了Blob的數量，還可以輸出找到的Blob XY座標，如下圖。